電子元器件高低溫試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述：電子元器件高低溫試驗(yàn)箱用來(lái)考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫或低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來(lái)保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于8%，且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。

產(chǎn)品型號(hào)AP-GD
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024-11-07
訪問(wèn) 量1916

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高低溫試驗(yàn)室

步入式高低溫濕熱試驗(yàn)房電子產(chǎn)品老化箱高低溫實(shí)驗(yàn)設(shè)備冷凍箱老化箱溫度變化的儀器恒溫機(jī) 冷熱循環(huán)測(cè)試箱恒溫老化試驗(yàn)箱交變溫度檢測(cè)設(shè)備高低溫老化試驗(yàn)箱溫度低溫箱實(shí)驗(yàn)溫箱大型高低溫試驗(yàn)室房高低溫測(cè)試機(jī) 恒定濕熱試驗(yàn)箱低溫試驗(yàn)箱高低溫交變?cè)囼?yàn)箱高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱深圳高低溫濕熱箱高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱可程式高低溫試驗(yàn)箱

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品牌	愛佩科技/A-PKJ	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)

電子元器件高低溫試驗(yàn)箱用來(lái)考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫或低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來(lái)保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于8%，且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。
電子元器件高低溫試驗(yàn)箱簡(jiǎn)易參數(shù)詳情如下：
★型號(hào)/規(guī)格：
★型號(hào)：AP-GD-80；AP-GD-100；AP-GD-150；AP-GD-225；AP-GD-408；AP-GD-800；AP-GD-1000
★試驗(yàn)機(jī)內(nèi)部尺寸(寬×高×長(zhǎng))cm 40×50×40；50×60×50；50×75×60；60×85×80；100×100×80；100×100×100；
★試驗(yàn)機(jī)外部尺寸(寬×高×長(zhǎng))cm 以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)，每個(gè)型號(hào)的報(bào)價(jià)方案上都會(huì)有對(duì)應(yīng)的外問(wèn)尺寸，如需提交咨詢請(qǐng)愛佩業(yè)務(wù)員。
★試驗(yàn)機(jī)內(nèi)外部材質(zhì)均采用SUS304優(yōu)質(zhì)不銹鋼：具有良好的低溫強(qiáng)度，耐蝕性、耐熱性和機(jī)械特性；沖壓、彎曲等熱加工性好，無(wú)熱處理硬化現(xiàn)象（無(wú)磁性，使用溫度-196℃～800℃）
★本試驗(yàn)機(jī)有多個(gè)溫度范圍可以選擇：0℃~-150℃；-20℃~-150℃；-40℃~-150℃；-60℃~-150℃；-70℃~-150℃
★波動(dòng)度：±0.5℃
★均勻度：±2℃
★控制器方式：微電腦PID控溫
★試驗(yàn)機(jī)內(nèi)部擺放樣品的置物架子：標(biāo)配兩層，多層下單時(shí)注明。
★整機(jī)使用電源：?jiǎn)蜗?20V或者三相380V，功率根據(jù)尺寸大小及溫度范圍而定。
★*的BTC平衡調(diào)溫方式，穩(wěn)定平衡的加熱能力，調(diào)節(jié)理想溫度環(huán)境，進(jìn)行高精度高穩(wěn)定的溫度控制。
★具有隨溫度的設(shè)定數(shù)值自動(dòng)選擇運(yùn)轉(zhuǎn)制冷回路的功能，操作簡(jiǎn)單，使用方便。
★測(cè)試機(jī)內(nèi)設(shè)有觀察窗，照明燈，可隨時(shí)觀察樣品在試驗(yàn)機(jī)內(nèi)的測(cè)試情況的變化。
具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。

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